Texas Instruments - V62/04730-01XE - 特定功能逻辑 Mil Enh 3.3V ABT Scan Test Devices - V620473001XE
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V62/04730-01XE
- 特定功能逻辑 Mil Enh 3.3V ABT Scan Test Devices - V620473001XE
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V62/04730-01XE
制造商型号:
V62/04730-01XE
制造商:
Texas Instruments
描述:
特定功能逻辑 Mil Enh 3.3V ABT Scan Test Devices
技术参考:
PDF查询
库存状态:
实时库存查询
所在地:
深圳全新原装现货
备注:
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产品信息
制造商:
Texas Instruments
产品种类:
特定功能逻辑
RoHS:
符合
系列:
SN74LVTH182512-EP
工作电源电压:
3.3 V
封装 / 箱体:
TSSOP-64
封装:
Reel
安装风格:
SMD/SMT
工作温度范围:
+ 85 C
工厂包装数量:
2000
旗下站点
www.szcwdz.com
相关详细信息:
V62/04730-01XE
旗下站点
www.szcwdz.com.cn
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型号: V62/04730-01XE 品牌: Texas Instruments 备注: 特定功能逻辑 Mil Enh 3.3V ABT Scan Test Devices
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