| 型号 | 制造商 | 描述 | 操作 |
| SN74LVTH182512DGGR [更多] | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP RoHS: Compliant | pbFree: Yes | 搜索 查看资料 |
| SN74LVTH182512DGGR [更多] | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP RoHS: Compliant | pbFree: Yes | 搜索 查看资料 |
| SN74LVTH182512DGGR [更多] | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP RoHS: Compliant | pbFree: Yes | 搜索 查看资料 |
| 型号 | 制造商 | 描述 | 操作 |
| SN74LVTH182512DGGR [更多] | Texas Instruments | Specialty Function Logic 3.3-V ABT w/18-Bit Univ Bus Transceiver RoHS: Compliant | 搜索 |
| 型号 | 制造商 | 描述 | 操作 |
| SN74LVTH182512DGGR [更多] | Texas Instruments | Bus XCVR Dual 18-CH 3-ST 64-Pin TSSOP T/R RoHS: Compliant | 搜索 |
| 型号 | 制造商 | 描述 | 操作 |
| SN74LVTH182512DGGR [更多] | Texas Instruments | Bus XCVR Dual 18-CH 3-ST 64-Pin TSSOP T/R - Tape and Reel (Alt: SN74LVTH182512DGGR) RoHS: Compliant | 搜索 |
| SN74LVTH182512DGGR [更多] | Texas Instruments | Bus XCVR Dual 18-CH 3-ST 64-Pin TSSOP T/R (Alt: SN74LVTH182512DGGR) RoHS: Compliant | 搜索 |
| 型号 | 制造商 | 描述 | 操作 |
| SN74LVTH182512DGGR [更多] | Texas Instruments | Bus XCVR Dual 18-CH 3-ST 64-Pin TSSOP T/R RoHS: Compliant | 搜索 |
| SN74LVTH182512DGGR [更多] | Texas Instruments | Bus XCVR Dual 18-CH 3-ST 64-Pin TSSOP T/R RoHS: Compliant | 搜索 |
| SN74LVTH182512DGGR [更多] | Texas Instruments | Bus XCVR Dual 18-CH 3-ST 64-Pin TSSOP T/R RoHS: Compliant | 搜索 |
| 型号 | 制造商 | 描述 | 库存 | 起订量 | 单价 (含税) | 货期 (工作日) | 操作 |
| SN74LVTH182512DG | Texas Instruments | IC,logic,7400,scan,JTAG,18bit,transceiver,bus,3-state,TSSOP64,SN74LVTH182512DGG | 查看库存、价格及货期 | ||||
| 参考图片 | 制造商 / 描述 / 型号 / 仓库库存编号 / 别名 | 操作 | |
 | Texas Instruments IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP 详细描述：ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-TSSOP 型号：SN74LVTH182512DGGR 仓库库存编号：296-8698-1-ND 别名：296-8698-1 |  |
| 参考图片 | 型号/品牌 | 描述 / 技术参考 | 操作 |
 | SN74LVTH182512DG Texas Instruments | IC,logic,7400,scan,JTAG,18bit,transceiver,bus,3-state,TSSOP64,SN74LVTH182512DGG 暂无PDF | 查价格库存 查看详细 |
| SN74LVTH182512DGG Texas Instruments | IC,logic,7400,scan,JTAG,18bit,transceiver,bus,3-state,TSSOP64,SN74LVTH182512DGG 暂无PDF | 查价格库存 查看详细 |
 | SN74LVTH182512DGGR Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP | 查价格库存 查看详细 |
| 参考图片 | 型号/品牌 | 描述 / 技术参考 | 操作 |
 | SN74LVTH182512DGGR Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP | 查价格库存 查看详细 |
| 参考图片 | 型号/品牌 | 描述 / 技术参考 | 操作 |
| SN74LVTH182512DGGR Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP | 查价格库存 查看详细 |
| SN74LVTH182512DG Texas Instruments | IC,logic,7400,scan,JTAG,18bit,transceiver,bus,3-state,TSSOP64,SN74LVTH182512DGG 暂无PDF | 查价格库存 查看详细 |
PDF查询| 传输延迟测试条件 | 50pF | |
| 安装类型 | 表面贴装 | |
| 宽度 | 6.1mm | |
| 封装类型 | TSSOP | |
| 尺寸 | 17 x 6.1 x 1.15mm | |
| 引脚数目 | 64 | |
| 数据流方向 | 双向 | |
| 最低工作温度 | -40°C | |
| 最大低电平输出电流 | 64mA | |
| 最大工作电源电压 | 3.6 V | |
| 最大高电平输出电流 | -32mA | |
| 最小工作电源电压 | 2.7 V | |
| 最长传播延迟时间@最长CL | 7.7 ns @ 2.7 V | |
| 最高工作温度 | +85°C | |
| 极性 | 非反相 | |
| 每片芯片元件数目 | 2 | |
| 每片芯片通道数目 | 18 | |
| 输入电平 | LVTTL | |
| 输出电平 | LVTTL | |
| 逻辑功能 | 扫描测试设备，带通用总线收发器 | |
| 逻辑系列 | LVT | |
| 长度 | 17mm | |
| 高度 | 1.15mm |
