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Texas Instruments - SN74BCT8240ANTE4 - IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP - SN74BCT8240ANTE4
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SN74BCT8240ANTE4|Texas Instruments
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SN74BCT8240ANTE4
制造商型号： SN74BCT8240ANTE4
制造商： Texas Instruments
描述： IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
技术参考： Rohs PDF查询
库存状态： 实时库存查询  所在地：深圳全新原装现货
备注： 代理销售世界各大品牌电子元器件，大量全新原装正品现货
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产品信息
数据列表 SN54/74BCT8240A
产品相片 24-DIP
标准包装  60
类别集成电路 (IC)
家庭逻辑 - 专用逻辑
系列74BCT
包装  管件  
逻辑类型扫描测试设备，带反相缓冲器
电源电压4.5 V ~ 5.5 V
位数8
工作温度0°C ~ 70°C
安装类型通孔
封装/外壳24-DIP（0.300"，7.62mm）
供应商器件封装24-PDIP

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