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Texas Instruments - 74ABTH182646APMG4 - IC 18BIT SCAN TEST DEV 64-LQFP - 74ABTH182646APMG4
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74ABTH182646APMG4|Texas Instruments
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74ABTH182646APMG4
制造商型号： 74ABTH182646APMG4
制造商： Texas Instruments
描述： IC 18BIT SCAN TEST DEV 64-LQFP
技术参考： Rohs PDF查询
库存状态： 实时库存查询  所在地：深圳全新原装现货
备注： 代理销售世界各大品牌电子元器件，大量全新原装正品现货
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产品信息
数据列表 SN54ABTH18(2)646A, SN74ABTH18(2)646A
产品相片 64-LQFP-PM
标准包装  160
类别集成电路 (IC)
家庭逻辑 - 专用逻辑
系列74ABTH
包装  托盘  
逻辑类型扫描测试设备，带收发器和寄存器
电源电压4.5 V ~ 5.5 V
位数18
工作温度-40°C ~ 85°C
安装类型表面贴装
封装/外壳64-LQFP
供应商器件封装64-LQFP（10x10）

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